聚合物絕緣子的起痕與蝕損試驗和加速老化試驗的不同

盡管本標準中描述的幾種起痕與(yu) 蝕損試驗方法在文獻中可能經常被稱為(wei) “老化試驗”，但指出它們(men) 在一定意義(yi) 上不是加速老化試驗很重要。因為(wei) 這些試驗既不能模擬確切的降低實際使用壽命的條件， 也不能通過短時間的加速給出一個(ge) 壽命的等伉試驗…而所使用的持續的、循環的或組合的應力，是要試 圖努力發現可能危及絕緣子運行性能的潛在薄弱點。

這些相關(guan) 的試驗（9. 3. 3,附錄A,附錄B）*被描為(wei) 篩選試驗，可以用來剔除不適用的材料或者 設計。

聚合物絕緣子的老化過程一般不會(hui) 同時造成容易測量的引起老化的逐漸變化的特征。絕緣子從(cong)  “性能良好”到“使用壽命結束”的璽化，經常是迅速而沒有事先預兆的，並有可能被類似前麵提及的鹽霧 試驗中所得到蝕損深度，或強紫外線所造成的表麵開裂觀察到。這種變化的時間和速度依賴於(yu) 很多參 數，包括絕緣了的材料、設計以及絕緣於(yu) 的運行環境。因此，對於(yu) 用這樣的老化試驗預測絕緣於(yu) 的真實 壽命，僅(jin) 當得到在相同或相似的環境下相同或相似的絕緣子的關(guan) 於(yu) 損傷(shang) 或降解的數據冇效時，才是有訂 能的。

因此,這些試驗的應用是為(wei) 了給出設計和材料的特性與(yu) 比較苛刻而拒嚴(yan) 酷的環境中呈現的應 力之間關(guan) 係的-般信息。

重要的是，要注意到通過標準的“試驗結束”時的破壞水平在大部分運行環境下是不能接受的。例 如，在相關(guan) 試驗（9. 3.-3,附錄A,附錄B）中"［到3 mm的蝕損深度在試驗中是可以接受的，但絕緣子 運行中這不能被接受.，在絕緣*的設計壽命中也不希望發生。

進一步的信息，見C1GRE技術手冊(ce) 142冊(ce) ：“聚合物絕緣子的i'|然和人工老化以及汙穢試驗” （）7,1999。