技術文章
Technical articles測量次序
將直流電壓施加在試樣上,會(hui) 改變其隨後測量的工頻 tan6的結果。
當在同一試樣上相繼測量電容率、損耗因數和電阻率時,工頻下測量應在對試樣施加直流電壓以前進行。工頻試驗後,應將兩(liang) 電極短路1min後再開始測量電阻率。
導致錯誤結果的因素
雖然隻有嚴(yan) 重汙染才會(hui) 影響電容率。但微量的汙染卻能強烈地影響 tan 和電阻率。
不可靠的結果通常是由於(yu) 不適當的取樣或處理試樣所造成的汙染、由未洗淨試驗池或吸收了水份, 特別是存在不溶解的水份所引起。
在貯藏期間長久暴露在強光線下會(hui) 導致電介質劣化,采用所推薦液體(ti) 樣品貯存和運輸以及試驗池的結構和淨化的標準化程序,可使由汙染引起的誤差減至*小