多功能極片體積電阻分析儀-是一款專為電池極片、導電薄膜、柔性電子材料等設計的精密電阻測量設備，可滿足研發和質量控製中對材料導電性能的精確測量需求。

產品型號：GCJPD-I

更新時間：2025-06-12

廠商性質：生產廠家

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電阻率測試儀(yi)

新-高溫電阻率測試儀 210-炭塊電阻率測試儀石墨電極電阻率測試儀高溫絕緣電阻率測試儀 121T-高溫電阻率測試儀 121A-絕緣電阻率測試儀點對點對地電組率測試儀油介質損耗電阻率測試儀 121A1-熱刺激電流測量儀多功能極片電阻測量係統 121B-全自動電阻率測試儀 121-體積表麵電阻率測試儀高低溫絕緣電阻率測量係統

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多功能極片體(ti) 積電阻分析儀(yi)

GCJPD-I

產(chan) 品概述：

多功能極片體(ti) 積電阻分析儀(yi) -電池極片中，影響電導率的主要因素包括箔基材與(yu) 塗層的結合界麵情況，導電劑分布狀態，顆粒之間的接觸狀態等；通過電池極片的電導率能夠判斷極片電阻中微觀結構的均勻性，預測電池的性能。同時鋰離子電池極片電阻是影響電池內(nei) 阻、電壓以及自動放電率的重要因素。

目前測試極片電阻的方法有四探針法和兩(liang) 探針法，四探針法和兩(liang) 探針法都無法對被測物體(ti) 表麵施加壓力，且極片的表麵塗層由顆粒組成，與(yu) 探針的接觸麵積小，隻測量了電阻兩(liang) 端的電壓值和電流值，故探針無法全麵表征極片電阻。

無論是四探針法還是兩(liang) 探針法都隻能表征表麵薄層的電阻（即隻能用於(yu) 測量被測物表麵的薄層電阻），對於(yu) 較厚且存在成分梯度電池塗層無法全麵表征極片的電阻值，另外，它也不能測試真實極片中塗層與(yu) 基材之間的接觸電阻。四探針測試法僅(jin) 測量非導電基材極片，且與(yu) 測試極片接觸點麵積小，極片顆粒大，數據無參考意義(yi) 。

本公司所研發可以對電池極片施加可變壓力，可對壓力值、極片電阻值和厚度變化值進行即時測量，並建立二次電池極片的受壓、延展與(yu) 電阻的變化關(guan) 係

通過對極片施加不同壓強，可以使極片表麵的塗層顆粒產(chan) 生不同程度的形變，從(cong) 而改變極片的導電性能。通過測量數據可以分析不同壓強下極片的阻值特性，從(cong) 而對改良極片提供數據參考。

本儀(yi) 器測試極片電阻阻值時，電流從(cong) 極片電阻的端麵穿過，使得對極片電阻電阻測量更加精確。

上一個(ge) ：GCJPD-I極片表麵電阻測量係統