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當前位置:首頁產(chan) 品中心介電常數測試儀(yi) AB-高頻介電常數測試儀(yi)

  • GCSTD-A/B裝置瓷高頻介電常數及介質損耗測試儀

    裝置瓷高頻介電常數及介質損耗測試儀(yi) 、介質損耗測試儀(yi) 元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。 半導體(ti) 元件:變容二極管的C-VDC特性;晶體(ti) 管或集成電路的寄生參數分析 其它元件:印製電路板、繼電器、開關(guan) 、電纜、電池等的阻抗評估

    更新時間:2025-01-02
    產品型號:GCSTD-A/B
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  • GCSTD-AB工頻介電常數及介質損耗測試儀

    工頻介電常數及介質損耗測試儀(yi) 滿足標準:GB/T 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nei) )下電容率和介質損耗因數的推薦方法

    更新時間:2025-01-02
    產品型號:GCSTD-AB
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  • GCSTD-AB介質損耗和介電常數測試儀

    介質損耗和介電常數測試儀(yi) 、介質損耗測試儀(yi) 元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。 半導體(ti) 元件:變容二極管的C-VDC特性;晶體(ti) 管或集成電路的寄生參數分析 其它元件:印製電路板、繼電器、開關(guan) 、電纜、電池等的阻抗評估聚合物介電常數測量儀(yi)

    更新時間:2025-01-02
    產品型號:GCSTD-AB
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  • GCSTD-AB高頻介電損耗測試儀

    高頻介電損耗測試儀(yi) 、介質損耗測試儀(yi) 元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。 半導體(ti) 元件:變容二極管的C-VDC特性;晶體(ti) 管或集成電路的寄生參數分析 其它元件:印製電路板、繼電器、開關(guan) 、電纜、電池等的阻抗評估聚合物介電常數測量儀(yi)

    更新時間:2025-01-02
    產品型號:GCSTD-AB
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  • GCSTD-A/B高頻介電常數及介質損耗測試儀

    高頻介電常數及介質損耗測試儀(yi) GCSTD源介電常數、介質損耗測試儀(yi) 元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。 半導體(ti) 元件:變容二極管的C-VDC特性;晶體(ti) 管或集成電路的寄生參數分析 其它元件:印製電路板、繼電器、開關(guan) 、電纜、電池等的阻抗評估

    更新時間:2025-01-02
    產品型號:GCSTD-A/B
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